Üçüncü kişilerin ücretsiz faydalanabilecekleri ülkemizdeki koruma süresi dolmuş patent,faydalı model ve tasarımlara ilişkin bilgilere buradan ulaşabilirsiniz.
>
Patent ve tasarım için TÜRKPATENT tarafından verilen (2011/12345 şeklindeki) başvuru numarasıdır. İhtiyaç için Teknoloji Transfer Platformu tarafından verilen referans numarasıdır.
Temizle Ara
Mikroner ölçüm yöntemleri ve mikroner ölçümü için lif örneklerinin hazırlanması TÜRKPATENT Detay Göster Koruma Süresi Bitimi İlanı: 23/02/2015
Koruma türü Patent
Başvuru Numarası 2009/07330
Buluş Başlığı Mikroner ölçüm yöntemleri ve mikroner ölçümü için lif örneklerinin hazırlanması
Başvuru Sahibi USTER TECHNOLOGIES AG
Buluş Sahibi JAMES T. WENDER;HOSSEIN M. GHORASHI;PRESTON S. BAXTER
IPC Sınıfı G01N 15/08;G01N 33/36
Buluş Özeti

Bir mikroner ölçümü için, lif örneğinin, bir uzunluğu ve en az bir hareketli uç duvarı olan bir mikroner odacığı içine konularak bir test hacmi belirlenmesi için bir yöntem. Mikroner odacığının uzunluğu boyunca bir akış başlatılır. Hareketli duvar ilerletilerek lif örneği mikroner odacığı içinde sıkıştırılır ve akışın en az bir özelliği bir belirleyici noktaya ulaştığında, uç duvarın ilerlemesi durdurulur. Hareketli uç duvarın konumu deney hacmini belirler. Bu şekilde, bir mikroner ölçümü yapılması amacı ile test hacminin belirlenmesi ve ihtiyaç duyulan bilginin elde edilmesi için uygun bir yöntem sağlanmış olmaktadır.