Üçüncü kişilerin ücretsiz faydalanabilecekleri ülkemizdeki koruma süresi dolmuş patent,faydalı model ve tasarımlara ilişkin bilgilere buradan ulaşabilirsiniz.
Mikroner ölçüm yöntemleri ve mikroner ölçümü için lif örneklerinin hazırlanması
TÜRKPATENT Detay Göster
Koruma Süresi Bitimi İlanı:
23/02/2015
Koruma türü | Patent |
Başvuru Numarası | 2009/07330 |
Buluş Başlığı | Mikroner ölçüm yöntemleri ve mikroner ölçümü için lif örneklerinin hazırlanması |
Başvuru Sahibi | USTER TECHNOLOGIES AG |
Buluş Sahibi | JAMES T. WENDER;HOSSEIN M. GHORASHI;PRESTON S. BAXTER |
IPC Sınıfı | G01N 15/08;G01N 33/36 |
Buluş Özeti | Bir mikroner ölçümü için, lif örneğinin, bir uzunluğu ve en az bir hareketli uç duvarı olan bir mikroner odacığı içine konularak bir test hacmi belirlenmesi için bir yöntem. Mikroner odacığının uzunluğu boyunca bir akış başlatılır. Hareketli duvar ilerletilerek lif örneği mikroner odacığı içinde sıkıştırılır ve akışın en az bir özelliği bir belirleyici noktaya ulaştığında, uç duvarın ilerlemesi durdurulur. Hareketli uç duvarın konumu deney hacmini belirler. Bu şekilde, bir mikroner ölçümü yapılması amacı ile test hacminin belirlenmesi ve ihtiyaç duyulan bilginin elde edilmesi için uygun bir yöntem sağlanmış olmaktadır. |